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MWR-2S-3I無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀

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出廠價(jià)：
1 元/套

主要規(guī)格：
套

用　　途：
硅材料紅外和少子綜合測(cè)試

產(chǎn)品介紹: MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試。一方面，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的；另一方面，通過近紅外對(duì)硅材料的光學(xué)特性，探測(cè)缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。此設(shè)備是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 系統(tǒng)功能強(qiáng)大，少子壽命及缺陷同時(shí)測(cè)量 ■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量 ■ 自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量 ■ 快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min ■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等 ■ 應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等 ■ 性價(jià)比高，極大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本 ■ 可以在線實(shí)時(shí)對(duì)產(chǎn)品監(jiān)控推薦工作條件 ■ 溫度：18-26℃ ■ 濕度：10%~80% ■ 大氣壓：750±30毫米汞柱技術(shù)指標(biāo) ■ 主機(jī)尺寸：63cm * 36cm *59cm ■ 測(cè)試尺寸:190mm*190mm*500mm ■ 測(cè)試掃描速度:2000mm/min ■ 電阻率范圍：>0.5Ω.cm ■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm ■ 儀器測(cè)試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％ ■ 少子壽命測(cè)試范圍:0.1μs-30ms ■ 少子檢測(cè)激光波長(zhǎng)：975nm,測(cè)試功率范圍：50-500mw ■ 紅外波長(zhǎng)：2300nm,測(cè)試功率范圍：50mw ■ 紅外探傷可分辨最小尺寸：0.1mm ■ 微波工作頻率：10GHz±0.5 ■ 微波測(cè)試單元功率：0.01W±10% ■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜160W ■ 主機(jī)重量：32KG 典型客戶德國(guó)，瑞士，美國(guó)，日本，俄羅斯及國(guó)內(nèi)河北，江西，江蘇，浙江，廣西，上海，遼寧等地拉晶鑄錠客戶。

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肖宗鏞

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