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電池片光譜橢偏儀

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出廠價(jià)：
1 元/套

主要規(guī)格：
套

用　　途：
電池片減反膜檢測(cè)

光譜橢偏儀(PH-SE型)針對(duì)太陽能電池應(yīng)用，可測(cè)量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對(duì)太陽能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于最佳的橢偏光路設(shè)計(jì)，高靈敏度探測(cè)單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測(cè)量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)，光學(xué)帶寬等。光譜橢偏儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應(yīng)用空間 ■ 更簡便快捷的樣品準(zhǔn)直方法 ■ 軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫 ■ 允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學(xué)性質(zhì) ■ 全波長多角度同時(shí)數(shù)據(jù)擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析 ■ 具有實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能 ■ 光譜范圍寬達(dá)250 - 1100nm (可擴(kuò)展至250-1700nm) ■ 功能強(qiáng)大的光譜橢偏測(cè)量與分析軟件光譜橢偏儀 - 技術(shù)指標(biāo) ■ 光源：氙燈 ■ 光斑直徑：1-3mm ■ 入射角范圍：20°到90°,5°/步 ■ 波長范圍：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02° ■ 波長精度：1nm ■ 測(cè)量時(shí)間: < 8s （取決于測(cè)量模式和粗糙度） ■ 樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm電池片, 其他尺寸 ■ 測(cè)量精度：0.02nm ■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si ■ 厚度測(cè)量范圍：0.01nm ~ 50um ■ 消光比：10-6 光譜橢偏儀 - 可選配 ■ CCD線陣列探測(cè)元件：200-850nm，350-1000nm ■ 樣品顯微鏡 ■ 高穩(wěn)定性消色差補(bǔ)償器 ■ 透射測(cè)量架 ■ XY移動(dòng)樣品臺(tái) 光譜橢偏儀 - 典型客戶美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導(dǎo)體客戶。詳情歡迎來電咨詢：北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號(hào) 電話：010-60546837 -104 傳真：01060546837-608 聯(lián)系人：肖經(jīng)理18610357221 QQ：454972757 Email：xiaozongyong@henergysolar.com 董工：18911559012 Email：dongpeiming@henergysolar.com 公司網(wǎng)站：http://www.HenergySolar.com

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肖宗鏞

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