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HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀

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出廠價(jià)：
1 元/套

主要規(guī)格：
套

用　　途：
測(cè)試硅材料少子壽命

產(chǎn)品介紹: HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 無接觸和無損傷測(cè)量 ■ 自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量 ■ 快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min ■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量 ■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。 ■ 性價(jià)比高，極大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。推薦工作條件 ■ 溫度：18-26℃ ■ 濕度：10%~80% ■ 大氣壓：750±30毫米汞柱技術(shù)指標(biāo) ■ 少子壽命測(cè)試范圍:0.1μs-20ms ■ 測(cè)試掃描速度:2000mm/min ■ 測(cè)試尺寸:215mm*215mm*500mm ■ 電阻率范圍：>0.1Ω.cm ■ 激光波長(zhǎng)：904,測(cè)試功率范圍：50-500mw ■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm ■ 儀器測(cè)試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％ ■ 工作頻率：10GHz±0.5 ■ 微波測(cè)試單元功率：0.01W±10% ■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜200W ■ 主機(jī)尺寸：365mm * 645mm *565mm ■ 主機(jī)重量：30KG 典型客戶河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶。詳情歡迎來電咨詢：北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號(hào) 電話：010-60546837 -104 傳真：01060546837-608 聯(lián)系人：肖經(jīng)理18610357221 QQ：454972757 E-mail：xiaozongyong@henergysolar.com 董工：13581954918 E-mail：dongpeiming@henergysolar.com 公司網(wǎng)站：http://www.HenergySolar.com

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