軍用電子元器件篩選（一次篩選、二次篩選）

      廣電計(jì)量布局電子元器件可靠性業(yè)務(wù)領(lǐng)域，可為用戶提供電子元器件測試、評(píng)估、質(zhì)量保證的成套方案，覆蓋各種電子元器件篩選檢測項(xiàng)目，剔除不合格元器件，提高電子元器件的使用可靠性，從而提升電子設(shè)備的質(zhì)量和可靠性。服務(wù)覆蓋電性能測試、壽命/老化/老煉試驗(yàn)、環(huán)境/機(jī)械應(yīng)力試驗(yàn)及其它檢測項(xiàng)目。

       電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時(shí)發(fā)現(xiàn)假冒翻新元器件的有效手段。

       電子元器件篩選是通過?系列短期環(huán)境應(yīng)?加速試驗(yàn)及測試技術(shù)，對(duì)整批電子元器件進(jìn)?全批次?破壞性試驗(yàn)，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收，提?產(chǎn)品使?可靠性。

元器件篩選的目的：

剔除早起失效產(chǎn)品。

提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點(diǎn)：

篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。

不改變?cè)骷逃惺C(jī)理和固有可靠性。

對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行100%篩選。

篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。

元器件篩選測試項(xiàng)目：

1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查、X射線?破壞性檢查。

2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性?蹤檢漏、濕度試驗(yàn)。

3.環(huán)境應(yīng)?篩選：振動(dòng)、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?。

元器件篩選覆蓋范圍：

電子元件：又叫被動(dòng)元件，顧名思義，沒有源，只是對(duì)外界信號(hào)的響應(yīng)，電阻、 電容、電感、磁環(huán)、變壓器、熔斷器、晶振、陶振，接插件，線纜等等；

電子器件：又叫有源器件，即內(nèi)部實(shí)際上是有一個(gè)“電源”，使用中要加一個(gè)外界電源和一個(gè)外 界信號(hào)，可起到對(duì)信號(hào)放大，處理等功能；包括分立器件，集成電路，機(jī)電類器件。

分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件，二/三極管，晶體管，光電二極管， 發(fā)光二極管，激光二極管……

集成電路：簡單理解由兩個(gè)以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路，數(shù)字集成電路，數(shù) 模混合集成電路：

模擬集成電路：運(yùn)算放大器，模擬乘法器，電源基準(zhǔn)，放大器，濾波器，反饋電路，光耦，晶體 等。

數(shù)字集成電路：處理器，單片機(jī)，比較器，TTL，存儲(chǔ)器，F(xiàn)PGA，DSP等。

數(shù)?；旌霞呻娐罚篈D/DA等

機(jī)電類器件：繼電器，MEMS等

我們的設(shè)備能力：

1.老煉需要的設(shè)備：

• 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、
• 電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)、
• 分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)、
• 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、
• 二極管恒流老煉系統(tǒng)。

2.電測試需要的設(shè)備：

• 阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測試儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、
• 高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

• 光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測能力覆蓋：

• 外觀檢測、內(nèi)部無損檢測、密封性測試、內(nèi)部缺陷測試。

元器件篩選業(yè)務(wù)聯(lián)系：

李經(jīng)理：138 0884 0060；

郵箱：lisz@grgtest.com