軍用電子元器件篩選    

      廣電計量檢測股份有限公司（廣電計量）從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù) 沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實現(xiàn)跨越式發(fā)展，成長為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計量檢測機構(gòu)，專業(yè)提供計量校準、產(chǎn)品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和 產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍G四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機構(gòu)的認可資質(zhì)。 

       依據(jù)各?業(yè)及領(lǐng)域客戶的需求，廣電計量精?打造出涵蓋計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、元器件篩選與失效分析、電磁兼容 檢測、化學分析、食品農(nóng)產(chǎn)品檢測、環(huán)保檢測、產(chǎn)品認證、技術(shù)咨詢與培訓、質(zhì)檢?業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā)、測控產(chǎn)品研發(fā)的?站式計量檢測技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過程。

       廣電計量可靠性與環(huán)境試驗*具備環(huán)境與可靠性試驗、六性設(shè)計與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設(shè)計與分析、材料分析與工藝質(zhì)量評價、定壽延壽分析等服務(wù)能力，可為系統(tǒng)、整機、部件等各類產(chǎn)品提供從研發(fā)到生產(chǎn)的全過程技術(shù)解決方案。

業(yè)務(wù)聯(lián)系：李經(jīng)理

電話/微信 138-0884-0060

郵箱：lisz@grgtest.com

元器件篩選的目的：

1. 剔除早起失效產(chǎn)品。
2. 提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點：

• 篩選試驗為非破壞性試驗。
• 不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。
• 對批次產(chǎn)品進行*篩選。
• 篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。

元器件篩選測試項目：

1. 檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。
2. 密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗。
3. 環(huán)境應?篩選：高低溫貯存、高溫反偏、振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應?。 

元器件篩選覆蓋范圍：

• 半導體集成電路：時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等;
• 半導體分立器件∶二極管、三極管、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;
• 電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧報器;繼電器;電連接器;開關(guān)及面板元件;濾波器;電源模塊等。

覆蓋標準 ：

• GJB 7243-2011JY電子元器件篩選技術(shù)要求；
• GJB128A-97半導體分立器件試驗方法；
• GJB 360A-96 電子及電?元件試驗方法；
• GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 ；
• GJB 40247A-2006 軍Y電子元器件破壞性物理分析方法；
• QJ 10003—2008 進?元器件篩選指南；
• MIL-STD-750D 半導體分立器件試驗方法；
• MIL-STD-883G；

我們的設(shè)備能力：
1.老煉需要的設(shè)備：

• 集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、
• 電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)、
• 分立器件間歇壽命試驗系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)、
• 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、
• 二極管恒流老煉系統(tǒng)。

2.電測試需要的設(shè)備：

• 阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數(shù)分析儀、
• 高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器
• 頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

• 光學顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測能力覆蓋：

• 外觀檢測、內(nèi)部無損檢測、密封性測試、內(nèi)部缺陷測試。