檢測認證人脈交流通訊錄
- 金屬膜厚測量儀，金屬膜厚測量儀在經(jīng)濟上遠遠優(yōu)于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設(shè)計使得能夠在非常精細的結(jié)構(gòu)上進行厚度測量和成分分析。金屬膜厚測量儀可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。金屬膜厚測量儀根據(jù)客戶的不同需求，提高不同的型號可供選擇，不同之處在于測量臺的操控，是固定的或可調(diào)節(jié)的： XDL-210固定的XY軸及固定的Z軸 XDL-220固定的XY軸及電動的Z軸 XDL-230手動操控的XY軸及電動的Z軸，無需打開測試蓋便可操作 XDL－240電動的XY軸可以在測量門打開時變速移動XY桌出來給操作員放置樣品及開關(guān)測量門時移動XY桌變速返回到測理位置。
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