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電氣電子產(chǎn)品壽命試驗(yàn)檢測(cè)
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對(duì)應(yīng)法規(guī)：
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548A-1996方法1005A、1006、1015A,《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548B-2005方法1005.1、1006、1015.1,《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997方法1026、1027,《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》GJB360A-1996方法108,《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》GJB360B-2009方法108,《微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》MIL-STD-883H:2010 方法1005.9、1006、1015.10,《存儲(chǔ)壽命》JESD22-A103C:2004,《壽命試驗(yàn)》JESD22-A108C:2005
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