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北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室
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電氣電子產(chǎn)品恒定加速度檢測
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對應(yīng)法規(guī)：
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-1996方法2001A,微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005方法2001.1,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360A-1996方法212,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360B-2009方法212,半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-1997方法2006,微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883H：2010方法2001.3,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度GB/T 2423.15-2008,半導(dǎo)體集成電路機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法SJ/T10745-1996第2.10條
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