23.4.1高電壓放電附著試驗
本節(jié)描述兩類高電壓試驗。對受試對象進行的高電壓試驗類型取決于它的試驗類別要求。初
始先導(dǎo)附著試驗用于確定逼近的雷電先導(dǎo)對設(shè)備的某一部分可能產(chǎn)生的雷電附著位置。掃掠通道附著試驗用于確定雷電通道掃掠過設(shè)備時對設(shè)備的某一部分可能產(chǎn)生的雷電附著位置。表23-1列出了試驗類型以及對每一種試驗類別所施加的有關(guān)高電壓試驗波形的概要。
表23-1高電壓試驗類型和試驗波形，如圖。
23 4.1.1高申樂試驗波形
使用下列一個或幾個波形進行高電壓放電附著試驗：
電壓波形A
電壓波形A是一種以1000kV/ust50%上升率的電壓。見圖23-2。應(yīng)在峰值電壓的30%上升至90%時測量電壓的上升率。
電壓波形D
電壓波形D是一種以50us~250us的時間上升至峰值并以大約2000us的時間下降至半峰值的電壓。見圖23-3。
23.4.2.1大電流試驗波形
23.4.2.2.1試驗?zāi)康?/span>
本試驗適用于指定為大電流物理破壞試驗類別為1A、1B、1C、2A、2B、2C和3N的設(shè)備。試驗用于評價對可能遭受雷電電流直接注入設(shè)備造成的損壞。對于燃料部件，將采用23.4.3.2節(jié)的附加程序來檢測引燃源。在直接雷電附著試驗時，可能使瞬態(tài)電壓注入到電路中的設(shè)備，應(yīng)采用23.4.3.3節(jié)的附加程序來測量這些瞬態(tài)電壓。
23.4.2.2.2受試對象
受試對象應(yīng)是生產(chǎn)線上的批量產(chǎn)品或是具有代表性的樣機。受試對象應(yīng)在試驗計劃中規(guī)定。
23.4.3.2.1照相方法
23.4.3.2.1.1試驗?zāi)康?/span>
本方法使用照相來檢測燃料系統(tǒng)部件在進行大電流試驗期間電火花(電壓火花)或熱火花(電
弧)的引燃源。該方法僅當(dāng)受試對象在所有角度都能被觀察到時才能使用。如果不能觀察到受試對象的所有角度或受試對象存在復(fù)雜結(jié)構(gòu)的遮擋，那么應(yīng)采用照相和可燃混合物試驗的組合。所用的照相方法必須具有檢測200uJ電火花的能力。對于呈現(xiàn)同等危險的熱火花通常會發(fā)出更多的光而且比200J的電壓火花更容易檢測。
照相方法具有若干優(yōu)點，包括容易配置試驗裝置并長久保留可用于辨別引燃源起源的試驗記錄，從而有助于失效分析。
23.4.3.2.2.l試驗?zāi)康?/span>
警告：利用可燃?xì)怏w混合物進行試驗有危險，應(yīng)采用適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施。
本方法可以代替照相方法或與照相方法結(jié)合起來檢測潛在的引燃源。在可能發(fā)生瞬態(tài)熱斑點的情況下，應(yīng)優(yōu)先采用可燃混合物方法。該方法用于試驗配置內(nèi)部所有可能存在的引燃源不能用照相機滿意查看的情況。氫/氧/氬混合物（5%氫，12%氧，83%氬）是可燃混合物試驗優(yōu)先選用的氣體。已經(jīng)證明，這種氣體暴露于200ul能量的電壓火花源時，被引燃的概率大于90%。另外，這種氣體燃燒時釋放的能量非常少，從而提高了試驗的安全性，降低了試驗箱壓力釋放要求。氫在燃燒時不發(fā)出可見光，從而允許同時使用照相方法并提高試驗結(jié)果的置信度。
23.4.3.3.1試驗?zāi)康?/span>
本試驗方法適用于指定為大電流物理破壞試驗類別為1A、1B、1C、2A、2B、2C和3N的
設(shè)備。該方法用于測量當(dāng)設(shè)備遭受雷電電流時直接出現(xiàn)在EUT電連接器上的電壓。設(shè)備的這種特性可用來選擇連接器的類型以及確定用于保護與外部安裝設(shè)備相連的內(nèi)部設(shè)備保護器件的等級。
23.4.3.3.2受試對象
受試對象應(yīng)是生產(chǎn)線上的批量產(chǎn)品或是具有代表性的樣機，其結(jié)構(gòu)、布線和設(shè)備安裝在電磁特性上應(yīng)與預(yù)期的產(chǎn)品配置相似。受試對象應(yīng)包括如襯墊、搭接跨接線、油漆和密封膠這樣的安裝用品。受試對象應(yīng)在試驗計劃中規(guī)定。