1試驗(yàn)的目的
該試驗(yàn)用于確定設(shè)備是否能耐受其交流或直流電源線上的電壓尖雌的影響。預(yù)期的主要不利影響有：
a.永久性損壞、部件故障、絕緣擊穿。
b.敏感性退化、或設(shè)備性能改變。
2設(shè)備類型
A類設(shè)備
主要指要求進(jìn)行高度保護(hù)以免受到電壓尖峰破壞的地方進(jìn)行安裝的設(shè)備為A類設(shè)備。
B類設(shè)備
主要指可接受進(jìn)行較低標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)以免受到電壓尖峰破壞的地方進(jìn)行安裝的設(shè)備為B類設(shè)備。
3試驗(yàn)設(shè)置和儀器
使用的暫態(tài)發(fā)電機(jī)產(chǎn)生的波形如圖17-1所示。典型的試驗(yàn)設(shè)置如圖17-2所示。如果波形與圖17-1相符，則可以使用任何會(huì)產(chǎn)生尖峰的方法。
4試驗(yàn)程序
在待測(cè)設(shè)備電源斷開(kāi)的情況下，應(yīng)驗(yàn)證瞬態(tài)波的形狀符合圖17-1。當(dāng)設(shè)備在其設(shè)計(jì)電壓下運(yùn)行時(shí)，對(duì)每個(gè)主電源輸入端施加一系列的如圖17-1所述的正負(fù)極性尖峰信號(hào)。如果多重電源輸入是由同一母線提供的，那么這些輸入的所有連接應(yīng)同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn)。在一分鐘之內(nèi)至少對(duì)每個(gè)電極施加50次瞬態(tài)信號(hào)。對(duì)設(shè)備的每一種運(yùn)行模式或功能重復(fù)該試驗(yàn)。施加尖峰結(jié)束后，確定設(shè)備是否符合適用的設(shè)備性能標(biāo)準(zhǔn)。
注：如果在該試驗(yàn)期間要檢香待刑設(shè)備的性能，則要采用話用的設(shè)備性能標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)完的性能要求。