HALT&HASS是美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的實(shí)驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6個(gè)月甚至一年的新產(chǎn)品可靠性實(shí)驗(yàn)縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，所以HALT&Hass的實(shí)驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前必須通過的驗(yàn)證。
HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗(yàn))-
HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、
這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測試手段，HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗(yàn)證。在美國之外，許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。
HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。
包含以下內(nèi)容：
a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障；
b、采取臨時(shí)措施，修正產(chǎn)品的失效或故障；
c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正；
d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟；
e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。
HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容：
a、進(jìn)行預(yù)篩選、剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷；
b、進(jìn)行探測篩選、找出明顯缺陷；
c、故障分析；改進(jìn)措施。