為什么要做清潔度測(cè)試離子污染測(cè)試，因?yàn)?span style="font-size:14px">電子產(chǎn)品的集成度越來越高，電路板上的元器件密度越來越高，電路板的布線也很密集，線與線的間距也越來越小。問題在于因而出現(xiàn)，以前的電路板表面清潔度已無法滿足現(xiàn)有產(chǎn)品的要求。而對(duì)清潔度的要求也就相應(yīng)提高了。對(duì)總離子污染的要求、分離子污染的要求，如Na、Cl、Br、SO4、等等離子就有了相應(yīng)的殘留濃度值的要求。

離子殘留究竟會(huì)造成什么后果呢？

PCB線路板的密度大，pad與pad的間距小，離子殘留在表面會(huì)造成離子遷移的可能性很大。也就是導(dǎo)通兩間距的pad或線。若PCB線路板表面有酸性離子（如：SO4、NO3等）殘留時(shí)還會(huì)對(duì)線路板有腐蝕的情形，如造成開路、短線等現(xiàn)象。產(chǎn)品的壽命也大大降低。

定量檢測(cè)PCB表面殘余離子的種類和濃度。

測(cè)試的方法有如下三種：
GB/T4677方法22a

通過萃取液清洗試樣表面并測(cè)量收集液的電阻率，計(jì)算出表示印制板污染程度的單位面積上的NaCl含量。（儀器：離子清潔度測(cè)試儀）
測(cè)試流程：配制清洗液-清洗樣品-測(cè)試電導(dǎo)率-換算NaCl當(dāng)量

IPC-TM-650 2.3.25c

通過萃取液清洗試樣表面并測(cè)量收集液的電阻率，計(jì)算出表示印制板污染程度的單位面積上的NaCl含量。（儀器：離子清潔度測(cè)試儀）
測(cè)試流程：配制清洗液-清洗樣品-測(cè)試電導(dǎo)率-換算NaCl當(dāng)量

IPC-TM-650 2.3.28