鍍層測(cè)厚儀（美國(guó)牛津CMI-900)

新型CMI900系列即時(shí)分析儀代表了牛津儀器（OXFORDINSTRUMENTS）鍍層厚度測(cè)量和材料成份分析技術(shù)的一次重大飛躍。軟件和硬件領(lǐng)域的新進(jìn)步提高了我們X線(xiàn)系列產(chǎn)品的性能。CMI900系列能夠測(cè)量極薄...

惠州市安普檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司

掃描電子顯微鏡

掃描電鏡（SEM），全稱(chēng)掃描電子顯微鏡（scanningelectronmicroscope）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的電子顯微鏡。它能產(chǎn)生樣品表面的高分辨率圖像，且圖像呈三維，掃描電...

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原子吸收光譜儀

聯(lián)系電話(huà)：39943037 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　性能指標(biāo)： 　　1.波長(zhǎng)范圍，190-900nm； 　　2.靜態(tài)基線(xiàn)穩(wěn)定性：≤±0....

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

金相顯微鏡(德國(guó)蔡司Axio+Lab.+A1)

AxioLab.A1是材料檢測(cè)中的理想儀器：高性?xún)r(jià)比的ECEPIPLAN物鏡具有以下特點(diǎn)：消色差校正，低應(yīng)力制造，物象清晰。

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熒光分光光度計(jì)

聯(lián)系電話(huà)：39943056 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　波長(zhǎng)測(cè)量范圍：200-650nm 　　信噪比：750：1(RMS，350nm處純水拉曼譜帶)，基線(xiàn)處為2000：1(RMS...

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

高精度數(shù)顯維氏硬度測(cè)量?jī)x（美國(guó)）

應(yīng)用范圍：鋼鐵、有色金屬、集成電路晶片、薄型塑料、金屬箔片、鍍層、涂層、熱處理、薄板。

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X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀

鍍層厚度測(cè)試

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微量定量?jī)x

負(fù)責(zé)人：周長(zhǎng)華  電話(huà)：020-39943080 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　NanoDrop2000—基座模式 　　儀器類(lèi)型：分光光度計(jì)&nbs...

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

高度測(cè)量?jī)x精度數(shù)顯洛氏硬

可進(jìn)行普通洛氏硬度試驗(yàn)；測(cè)試行程加長(zhǎng)，可進(jìn)行較大尺寸的試件硬度試驗(yàn)；LCD數(shù)顯；可按ISO/ASTM標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行硬度標(biāo)尺轉(zhuǎn)換；LCD菜單操作，方便簡(jiǎn)單；具有GO/NG判斷，標(biāo)尺轉(zhuǎn)換，試驗(yàn)力加載...

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傅立葉變換紅外光譜儀

負(fù)責(zé)人：陳寶  電話(huà)：39943030 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　主要技術(shù)參數(shù) 　　1.分辨率：0.5cm-1,可升級(jí)至0.25cm-1 ...

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

三維CT掃描儀

三維X射線(xiàn)掃描是以非破壞性X射線(xiàn)透視技術(shù)（簡(jiǎn)稱(chēng)CT），將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn)，通過(guò)單一軸面的射線(xiàn)穿透被測(cè)物體，根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線(xiàn)的吸收與透射率不同，收集每個(gè)角度的穿透圖像，之后...

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熱電氣質(zhì)聯(lián)用

負(fù)責(zé)人：苗慧  電話(huà)：020-39943046 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　一、氣相色譜部分 　　1.配置自動(dòng)進(jìn)樣器，百位液體樣品盤(pán)。&nbs...

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

原子力顯微鏡（AFM）

原子力顯微鏡（AFM）；表面粗糙度測(cè)試

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輪廓儀（表面粗糙度測(cè)試）

輪廓儀（表面粗糙度測(cè)試）

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熱電氣相-質(zhì)譜聯(lián)用儀

負(fù)責(zé)人：朱龍平電話(huà)：020-39943030 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　質(zhì)譜部分： 　　1.質(zhì)量數(shù)范圍：1-650amu 　　2.質(zhì)量穩(wěn)定性：0.1am...

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

3D激光共聚焦顯微鏡

3D激光共聚焦顯微鏡；表面粗糙度測(cè)試

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聚焦離子束(FIB)

基本原理：以SEM為基礎(chǔ)；用鎵(Ga)離子束代替電子束；最小束斑直徑達(dá)到10nm；用于精密切割；通過(guò)二次電子對(duì)切割效果進(jìn)行觀(guān)察；通過(guò)在樣品表面鍍W或Pt來(lái)保護(hù)切割邊緣；...

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熱電氣相色譜儀

聯(lián)系電話(huà)：39943037 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　1.七階八級(jí)程序升溫，0.1~120℃/分鐘 　　2.八個(gè)完全獨(dú)立的加熱塊，分別用于進(jìn)樣口、檢測(cè)器和其...

藥學(xué)院中心實(shí)驗(yàn)室

二次離子質(zhì)譜SIMS

入射信號(hào)：離子；出射信號(hào)：離子；分析深度：約3nm；靈敏度：ppm；分析信息：所有元素定性；橫向分辨率：10微米

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氣相色譜儀

負(fù)責(zé)人：陳燁  電話(huà)：020-39943045 主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo) 　　溫度范圍：室溫以上4℃～450℃ 　　最高使用溫度：400℃ ...

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