粒度譜儀

主要技術(shù)指標粒度分析及實驗應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域E新材料；學科領(lǐng)域物理學；電子、通信與自動控制技術(shù)...

南京大學大型儀器共享管理系統(tǒng)

紅外熱像儀

　　主要技術(shù)指標波長：8-9微米；分辨率：320×240像素；靈敏度：0.01℃(30℃時)。應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域B高技術(shù)服務(wù)；...

南京大學大型儀器共享管理系統(tǒng)

超真空薄膜蒸發(fā)系統(tǒng)

　　應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域: B高技術(shù)服務(wù)； 　　學科領(lǐng)域: 物理學；電子、通信與自動控制技術(shù) 　　主要功能: 半導(dǎo)體材料的蒸發(fā) ...

南京大學大型儀器共享管理系統(tǒng)

磁控濺射系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：真空度達1X10-6乇，襯底溫度可達100度直流濺射電源功率1000瓦　　功能/應(yīng)用范圍：有2個DC濺射靶，可以在真空狀態(tài)下濺射生成一類材料薄膜或多層不同薄膜，...

復(fù)旦大學材料科學系

多功能光學分析儀（帶軟件）

主要技術(shù)指標：波長范圍190-1000nm,功能/應(yīng)用范圍：測量薄膜折射率,消光系數(shù)和薄膜厚度主要測試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息技術(shù)收費標準：其它收費...

復(fù)旦大學材料科學系

雙束聚焦離子束系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：離子束：30kv分辨率7nm，加速電壓2-30kv。電子束：鎢燈絲電子槍　　功能/應(yīng)用范圍：材料微細加工及樣品制備。　　主要測試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息...

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場發(fā)射掃描電子顯微鏡

　　主要技術(shù)指標：加速電壓0.5-30kv，15kv分辨率1.0nm?！　」δ?應(yīng)用范圍：材料及微電子、光電子器件微區(qū)形貌觀察及組份分析。　　主要測試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息...

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X射線能譜儀

　　主要技術(shù)指標：分辨率125?！　」δ?應(yīng)用范圍：鈹以上元素定性分析?！　≈饕獪y試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息技術(shù)　　收費標準：按樣品、小時數(shù)收費　　儀...

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磁控濺射裝置

　　主要技術(shù)指標：真空度<1e-6mBar，薄膜淀積速率1~10nm/min 　　功能/應(yīng)用范圍：離子束濺射，可用于金屬薄膜淀積和樣品物理刻蝕 　　主要測試和研究領(lǐng)域...

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飛秒激光器系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：重復(fù)頻率1KHz,單脈沖能量600微焦耳，脈沖寬度50fs　　功能/應(yīng)用范圍：超快光譜學、非線性光學　　主要測試和研究領(lǐng)域：電子/信息技術(shù)　　收費標準：其它收...

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化學機械拋光系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：8寸 　　功能/應(yīng)用范圍：拋光硅片 　　主要測試和研究領(lǐng)域：電子/信息技術(shù) 　　收費標準：其它收費方式 　...

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電子束光學鍍膜機系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：1.真空腔尺寸:Φ1100×12002.極限真空度:2×10-4Pa3.坩堝容積:2×1000ml3.電子槍功率：10kW　　功能/應(yīng)用范圍：可用于氧化物等薄...

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矢量信號分析儀

　　主要技術(shù)指標：　　*dc-4.1GHz頻率覆蓋，具有36MHz分析帶寬　　*靈活的解調(diào)，對許多標準制式的單鍵設(shè)置　　*Agilent獨特的差錯分析特性，包括隨時間變化的EVM，隨時間變化的相...

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高真空多靶磁控濺射儀

　　主要技術(shù)指標：1、Loadlock預(yù)抽真空；2、本底真空：2*10e-8Torr；3、基板加熱，0-400度；4、基板旋轉(zhuǎn)速度可調(diào)，1-20rpm；5、三路氣體，可反應(yīng)濺射；6、五個2英寸濺射槍，和一個3...

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電學測試系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：電流精度10fA電容高頻1MHz 　　功能/應(yīng)用范圍：用于半導(dǎo)體器件的電學(IV、CV)特性測試 　　主要測試和研究領(lǐng)域：電子/信息技術(shù) ...

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掃描探針顯微鏡

　　主要技術(shù)指標：AFM噪聲水平0.3,可對云母、石墨原子像成像控制器反饋相應(yīng)時間：2s,采樣率50MHZ掃描范圍：0.4μm×0.4μm×0.4μm或10μm×10μm×2...

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納米器件濺射儀

主要技術(shù)指標：樣品尺寸為4寸硅片濺射室極限真空優(yōu)于1.210-6Pa，進樣室(loadlock)真空優(yōu)于6.710-4Pa淀積薄膜厚度均勻性優(yōu)于3%襯底可加熱，溫度最高可達800oC 功能/應(yīng)用范...

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存儲薄膜濺射儀

　　主要技術(shù)指標：極限真空：成膜室1.210-6Pa(loadlock)準備室6.710-4Pa樣品尺寸：4寸(1片/次)可通3路氣體：Ar、N2、O2(50sccm)。可做普通濺射、共濺射和反應(yīng)濺射，可對樣...

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集成電路自動測試系統(tǒng)

　主要技術(shù)指標：數(shù)字通道：16路P1000數(shù)字通道；128路C400e數(shù)字通道；80路C200e數(shù)字通道模擬通道：一塊AV8，含四路24bit音頻DAC/ADC模塊，四路14bit視頻DAC/ADC模塊一塊WGD，500MspsAW...

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原位納米力學測試系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標：納米壓痕試驗縱向載荷力和位移可實現(xiàn)的最大載荷：10mN位移分辨率：0.0004nm可實現(xiàn)的最大位移：5μm2納米劃痕試驗橫向載荷力和位移可實現(xiàn)的最小橫向力：<5μN...

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