多功能光學(xué)分析儀（帶軟件）

主要技術(shù)指標(biāo)：波長范圍190-1000nm,功能/應(yīng)用范圍：測(cè)量薄膜折射率,消光系數(shù)和薄膜厚度主要測(cè)試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息技術(shù)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：其它收費(fèi)...

復(fù)旦大學(xué)材料科學(xué)系

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

　　主要技術(shù)指標(biāo)：加速電壓0.5-30kv，15kv分辨率1.0nm?！　」δ?應(yīng)用范圍：材料及微電子、光電子器件微區(qū)形貌觀察及組份分析?！　≈饕獪y(cè)試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息...

復(fù)旦大學(xué)材料科學(xué)系

X射線能譜儀

　　主要技術(shù)指標(biāo)：分辨率125。　　功能/應(yīng)用范圍：鈹以上元素定性分析?！　≈饕獪y(cè)試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾電子/信息技術(shù)　　收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：按樣品、小時(shí)數(shù)收費(fèi)　　儀...

復(fù)旦大學(xué)材料科學(xué)系

矢量信號(hào)分析儀

　　主要技術(shù)指標(biāo)：　　*dc-4.1GHz頻率覆蓋，具有36MHz分析帶寬　　*靈活的解調(diào)，對(duì)許多標(biāo)準(zhǔn)制式的單鍵設(shè)置　　*Agilent獨(dú)特的差錯(cuò)分析特性，包括隨時(shí)間變化的EVM，隨時(shí)間變化的相...

復(fù)旦大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院

掃描探針顯微鏡

　　主要技術(shù)指標(biāo)：AFM噪聲水平0.3,可對(duì)云母、石墨原子像成像控制器反饋相應(yīng)時(shí)間：2s,采樣率50MHZ掃描范圍：0.4μm×0.4μm×0.4μm或10μm×10μm×2...

復(fù)旦大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院

納米熱分析系統(tǒng)

　　主要技術(shù)指標(biāo)：分辨率10X10納米Multimode8型　　功能/應(yīng)用范圍：納米材料表面形貌、納米薄膜粗糙度研究，納米材料粒徑測(cè)量、納米復(fù)合材料相組成研究及復(fù)合材料界面研究...

復(fù)旦大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院

雙束顯微鏡

主要技術(shù)指標(biāo)：分辨率：1.0nm@15kV、1.9nm@1kV；離子束分辨率：2.5nm@30kV;加速電壓：0.1-30kV(SEM)、1-30kV(FIB)?功能/應(yīng)用范圍：用于各種微納器件和低維納米人工結(jié)構(gòu)的制作，是...

復(fù)旦大學(xué)分析測(cè)試中心