http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做，歡迎咨詢預(yù)約須知注意：首次下單用戶下單前請(qǐng)聯(lián)系項(xiàng)目經(jīng)理確認(rèn)需求1，粉體、液體、塊體均可測(cè)試2，樣品的厚度不超過(guò)100nm，如果顆粒稍大一點(diǎn)，可適當(dāng)研磨至100nm以下（可先拍SEM判定顆粒大?。?，一般制樣選微珊銅網(wǎng)即可，如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣；樣品含Cu，需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網(wǎng)或者鉬網(wǎng)等；薄膜或塊狀樣品需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等）4，強(qiáng)磁樣品要求顆粒大小不超過(guò)200nm，且不接受自己制樣5，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品，若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁，我們將可能無(wú)法安排您的實(shí)驗(yàn)，不承擔(dān)以此造成的時(shí)間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任！??！透射電子顯微鏡TEM型號(hào)：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS測(cè)試項(xiàng)目：可測(cè)項(xiàng)目：形貌、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射備注：非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝樣品要求：1. 樣品狀態(tài)粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無(wú)法直接測(cè)試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請(qǐng)?zhí)崆罢f(shuō)明并確認(rèn)2. 樣品成分要求該說(shuō)明僅針對(duì)材料測(cè)試類樣品，生物類樣品與材料類處理方式完全不同（請(qǐng)參考生物類測(cè)試樣品要求）。一般對(duì)測(cè)試樣品有如下幾方面的要求：安全性：無(wú)毒、無(wú)放射性；是否含有有機(jī)物：有機(jī)物在高壓下不穩(wěn)定，拍攝過(guò)程中極易被打散，樣品被打散的同時(shí)會(huì)污染到儀器，如需拍攝，請(qǐng)務(wù)必與工作人員確認(rèn)。帶有機(jī)物的樣品，無(wú)法拍攝mapping，請(qǐng)?jiān)陬A(yù)約的時(shí)候不要選擇此選項(xiàng)。磁性：磁性顆粒，易吸附到極靴上，原則上電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。但是不同的設(shè)備，測(cè)試?yán)蠋煵煌臉悠诽幚斫?jīng)驗(yàn)狀況下，對(duì)所拍樣品中磁性強(qiáng)弱的接受度不同，所以在預(yù)約時(shí)候請(qǐng)大家務(wù)必如實(shí)填寫(xiě)樣品是否含磁及磁性的強(qiáng)弱。