你好我們這邊可以測(cè)試，加V:sousepad1

http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做，歡迎咨詢 預(yù)約須知 注意：預(yù)約前請(qǐng)?zhí)崆芭c項(xiàng)目經(jīng)理溝通。 1，粉末、液體、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品直徑小于3cm，厚度小于1cm。 2，如果樣品由于您要求不噴金而導(dǎo)致效果不好，測(cè)試?yán)蠋煵话才艔?fù)測(cè)。 3，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品，若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實(shí)驗(yàn)，不承擔(dān)以此造成的時(shí)間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任?。?！ 掃描電子顯微鏡SEM 型號(hào)：jeol jsm7500f；Zeiss Gemini 300；Zeiss Sigma 500日立Regulus8100；Quanta FEG 250等 測(cè)試項(xiàng)目： 形貌、點(diǎn)掃、線掃、mapping 備注：非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝 樣品要求： 一、制樣說明 粉末、液體、薄膜、塊體均可測(cè)試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長(zhǎng)寬小于1cm，厚度小于1cm 1、粉體樣品，常規(guī)粉末直接粘到導(dǎo)電膠上測(cè)試，如需分散后測(cè)試請(qǐng)?zhí)崆罢f明； 2、液體樣品，測(cè)試?yán)蠋煾鶕?jù)樣品要求及實(shí)驗(yàn)室條件，隨機(jī)選擇滴到導(dǎo)電膠、硅片或鋁箔上，如有指定要求請(qǐng)?zhí)崆罢f明； 3，薄膜或塊體，請(qǐng)標(biāo)明測(cè)試面，如需測(cè)試截面，請(qǐng)自行自備截面或提前說明 預(yù)約須知 注意：首次下單用戶下單前請(qǐng)聯(lián)系項(xiàng)目經(jīng)理確認(rèn)需求 1，粉體、液體、塊體均可測(cè)試 2，樣品的厚度不超過100nm，如果顆粒稍大一點(diǎn)，可適當(dāng)研磨至100nm以下（可先拍SEM判定顆粒大?。? 3，一般制樣選微珊銅網(wǎng)即可，如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣；樣品含Cu，需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網(wǎng)或者鉬網(wǎng)等；薄膜或塊狀樣品需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等） 4，強(qiáng)磁樣品要求顆粒大小不超過200nm，且不接受自己制樣 5，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品，若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實(shí)驗(yàn)，不承擔(dān)以此造成的時(shí)間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任！??！ 透射電子顯微鏡TEM 型號(hào)：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS 測(cè)試項(xiàng)目： 可測(cè)項(xiàng)目：形貌、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射 備注：非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝 樣品要求： 1. 樣品狀態(tài) 粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無法直接測(cè)試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請(qǐng)?zhí)崆罢f明并確認(rèn)