V-Sorb 2800TP全自動碳酸鈣比表面及微孔分析儀技術(shù)指標

測試方法及功能：真空容量法(真空靜態(tài)法);吸附及脫附等溫線測定;樣品真密度測定;BJH介孔分析-總孔體積及孔徑分布分析;t-plot圖法微孔分析;MP法微孔分析;HK微孔孔徑分布;SF微孔孔徑分布;Langmuir法比表面積測定;BET法比表面積測定(單點及多點);平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定
測定范圍：0.01(m2/g)--至無上限(比表面積);0.35nm-2nm（微孔）；2nm-500nm(中孔或介孔)
測量精度：重復(fù)性誤差小于1.5%
真空系統(tǒng)：全不銹鋼微焊真空管路系統(tǒng),接頭采用全金屬VCR連接,最大限度減小管路死體積空間的同時,可長時間維持高真空度,VCR方式全金屬連接真空漏氣率可達1x10－10(Pa﹡ m3/s)
液位控制：V-Sorb獨創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差
控制系統(tǒng)：采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命
樣品類型：粉末,顆粒,纖維及片狀材料等
測試氣體：高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)
數(shù)據(jù)采集：高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強
數(shù)據(jù)處理：Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報表
樣品數(shù)量：同時進行2個樣品分析和2-6個樣品脫氣處理
壓力測量：采用壓力分段測量的進口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點下測試精度,有利于微孔孔徑分布測量.0-1000 Torr(0-133Kpa);0-1 Torr (0-133pa),必須提供進口檢測證書
壓力精度：進口硅薄膜壓力傳感器,精度達實際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠高于皮拉尼電阻真空計精度(一般誤差為10%-15％)
真空泵：采用德國原裝進口免維護分子泵(原裝進口),二級機械式真空泵
分壓范圍：P/Po 準確可控范圍達5x10－8－0.995
極限真空：機械泵--4x10－2Pa (3x10－4Torr);分子泵--5x10－6Pa;
儀器規(guī)格：尺寸:長70×寬70×高85(CM);重量:60公斤;電壓:交流220V;電流:5A
全自動碳酸鈣微孔及比表面測定儀特點
A.碳酸鈣微孔及比表面測定儀真空系統(tǒng)
1)獨創(chuàng)的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大降低漏氣率,提高極限真空度;
2)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計,一體式集裝管路,需人工進行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶需求按需配置及后期功能擴展,有利于維修更換;
3)采用德國原裝進口的真空泵和分子泵,噪音小,運行穩(wěn)定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達4x10-2Pa (3x10-4Torr),分子泵--5x10－6Pa.
B.碳酸鈣微孔及比表面測定儀控制系統(tǒng)
1)采用廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強,穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;
2)獨特設(shè)計的測試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結(jié)構(gòu),有效防止樣品處理過程中產(chǎn)生的雜質(zhì)對測試管路的污染.
C.碳酸鈣微孔及比表面測定儀提高測試精度措施
1)采用與同類進口產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15％,遠遠優(yōu)于0.15％的全量程精度(FS)傳感器;
2)與國外同類產(chǎn)品類似,采用0－1Torr和0－1000Torr雙壓力傳感器,對測試范圍內(nèi)的壓力采用分段測量,大大降低了低真空下的測量誤差,0－1Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(一般誤差為10%-15％);
3)獨創(chuàng)的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大減少死體積空間,有利于降低測量誤差;
4)獨創(chuàng)的步進式液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差;
5)獨特設(shè)計的抽氣及進氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點和線性漂移.
D.碳酸鈣微孔及比表面測定儀數(shù)據(jù)采集及處理
1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標準的485通訊模式,有利于設(shè)備擴展和互連,可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232和USB通訊模式;
2)多種理論計算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶提供全方位的材料分析方案;強大的測試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理.
E.碳酸鈣微孔及比表面測定儀適用范圍
1) 超微粉體，納米材料，顆粒及纖維狀材料比表面積分析測定；
2) 粉體材料生產(chǎn)及應(yīng)用企業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測；
3) 高校及科研單位材料研究測試，吸附科學及BET理論教學實驗；
4) 電池材料，催化劑，添加劑，吸附劑，陶瓷燒結(jié)材料，磁性材料，儲能材料等相關(guān)性能測定；
5) 其它與材料表面性能相關(guān)的研究工作。
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