全自動靜態(tài)容量法二氧化硅孔徑測定儀特點

A.二氧化硅孔徑測定儀真空系統(tǒng)

1)獨創(chuàng)的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大降低漏氣率,提高極限真空度.

2)模塊化結構設計,一體式集裝管路,需人工進行連接的部件少,有利于根據(jù)用戶需求按需配置及后期功能擴展,有利于維修更換.

3)采用中德合資的真空泵,噪音小,運行穩(wěn)定,防油返功能卓越,極限真空度高,可達4x10－2Pa (3x10－4Torr)

B.二氧化硅孔徑測定儀提高測試精度措施

1)采用與同類進口產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜壓力傳感器,壓力測量精度為相應讀數(shù)的0.15％,遠遠優(yōu)于0.15％的全量程精度(FS)傳感器;

2)與國外同類產(chǎn)品類似,采用0－10Torr和0－1000Torr雙壓力傳感器,對測試范圍內的壓力采用分段測量,大大降低了低真空下的測量誤差,0－10Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(一般誤差為10%-15％);

3)獨創(chuàng)的一體化集裝式管路系統(tǒng),采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大減少死體積空間,有利于降低測量誤差;

4)獨創(chuàng)的步進式液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差;

5)獨特設計的抽氣及進氣控制系統(tǒng),有效防止樣品抽真空和進氣過程中的飛濺,確保測試氣路的清潔和樣品質量無損失,保護高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導致的零點和線性漂移.

C.二氧化硅孔徑測定儀控制系統(tǒng)

1)采用廣泛應用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),抗干擾能力強,穩(wěn)定性大大提高,安裝及拆卸都非常方便;

2)獨特設計的測試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結構,有效防止樣品處理過程中產(chǎn)生的雜質對測試管路的污染.

D.二氧化硅孔徑測定儀數(shù)據(jù)采集及處理

1)采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,連接方便,誤差小,抗干擾能力;采用業(yè)界標準的485通訊模式,有利于設備擴展和互連,可方便轉換為所需的RS232和USB通訊模式;

2)多種理論計算模型數(shù)據(jù)分析,為用戶提供全方位的材料分析方案;強大的測試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理.

全自動靜態(tài)容量法二氧化硅孔徑測定儀簡介

二氧化硅孔徑測定儀由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā)，是催化劑和纖維材料的孔隙度孔徑測定分析儀器，采用靜態(tài)容量法測量原理，產(chǎn)品設計遵循國際標準,完全實現(xiàn)制造集成化,功能模塊化,操作自動化和智能化。廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質量檢測，可用于催化劑材料孔徑測定，吸附劑材料孔徑測定，金屬氧化物孔徑測定等

全自動靜態(tài)容量法二氧化硅孔徑測定儀性能參數(shù)

測試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測定,BJH總孔體積及孔徑測定,樣品真密度測定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測定(單點及多點),Langmuir法比表面積測定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測定

孔徑測定儀測定范圍:0.01(㎡/g)--至無上限(比表面積);0.35nm-400nm(孔徑)

測量精度:重復性誤差小于1.5%

孔徑測定儀真空系統(tǒng):V-Sorb獨創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑測定的分辨率;同時集裝式管路減少了連接點,大大提高密封性和儀器使用壽命.

液位控制:V-Sorb獨創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測試全程液氮面相對樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測量誤差

孔徑測定儀控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命.

樣品數(shù)量:同時進行2個樣品分析和2個樣品脫氣處理

壓力測量:采用壓力分段測量的進口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點下測試精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)

孔徑測定儀壓力精度:進口硅薄膜壓力傳感器,精度達實際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠高于皮拉尼電阻真空計精度(一般誤差為10%-15％)

分壓范圍:P/Po 準確可控范圍達5x10－6－0.995

極限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)

樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等

孔徑測定儀測試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)

數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強.

孔徑測定儀數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結果報表.

全自動靜態(tài)容量法二氧化硅孔徑測定儀應用領域

1) 超微粉體，納米材料，顆粒及纖維狀材料比表面積分析測定；
2) 粉體材料生產(chǎn)及應用企業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場產(chǎn)品質量監(jiān)測；
3) 高校及科研單位材料研究測試，吸附科學及BET理論教學實驗；
4) 電池材料，催化劑，添加劑，吸附劑，陶瓷燒結材料，磁性材料，儲能材料等相關性能測定；
5) 其它與材料表面性能相關的研究工作。
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