檢測認證人脈交流通訊錄
- 掃描速度的全新詮釋，擁有最高的掃描分辨率，最優(yōu)異的儀器檢測性能 Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。 為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設(shè)置實驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。 高效率 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調(diào)節(jié) 和檢測器調(diào)節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結(jié)合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。 高分辨率 Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。 掃描速度20Hz時仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
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