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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- F20-XT經(jīng)濟(jì)型高級膜厚測試儀,膜厚儀，薄膜測厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務(wù)） 主要用于測試各種透明半透明的膜厚. 產(chǎn)品簡介： 1 是在F20-NIR的基礎(chǔ)上專為測試厚膜而設(shè)計(jì)的，波長范圍從1200nm到1450nm，在NIR波長分辨率為 0.5nm； 2 薄膜厚度的測量范圍是：0.2～ 450um（低光學(xué)參數(shù)薄膜），0.1～160um（Si及其它半導(dǎo)體），精度都好于0.4%。 應(yīng)用領(lǐng)域 : 1 微機(jī)電系統(tǒng)MEMS； 2 絕緣體上硅SOI； 3 倒裝芯片F(xiàn)lip Chips； 4 厚聚合物 。
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