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chroma 17208M-5-12C高精度充放電測試機

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高精度充放電測試機

chroma 17208M-5-12C高精度充放電測試機何謂非侵入性分析鋰離子電池芯劣化分析可歸納為侵入性(invasive)與非侵入性(non-invasive)分析，其中非侵入性分析具備以下優(yōu)勢: (1)電池劣化的證據(jù)可被完整保留；(2)最大化降低外界因子對電池狀態(tài)的影響而新增變異；(3)可透過特定的量測儀器設(shè)備辨證已知的電池參數(shù)，并系統(tǒng)化歸類電池老化機理。因此，無論是在電池材料性能的評價、電池選型或電池劣化研究，皆被廣泛采用并獲得豐碩的成果。典型的非侵入性劣化分析方法：差分電壓-增量分析(DV-ICA) 差分電壓(DV)與增量容量(IC)是常被用來進行非侵入性的電池劣化機制手法之一。最常見的實施方法是在特定的循環(huán)老化次數(shù)后穿插DV-IC的劣化分析測試，并透過極低速率的充放電流(~C/25)將極化效應(yīng)最小化以獲得近似理想的OCV-Q關(guān)系，并藉由一階微分來繪制出DV及IC曲線，如下圖一曲線及特征峰會隨著電池老化的程度而產(chǎn)生偏移，對于 X-Y軸參數(shù)的偏移程度可被用來衡量電池劣化，也就是鋰離子存量損失(LLI)與活性材料損失(LAM)的程度，進而推估潛在的老化機制，如下表一[4]。此外，由于高精密的DV曲線可以有效識別全電池中正負電極在特定電位相變化，借此來推斷正極與負極的劣化狀態(tài)，無須使用參考電極來辨證。圖片 ▲圖一、電池在不同循環(huán)充放電次數(shù)下DVA曲線變化示意圖圖片 ▲表一、IC-DV 曲線的變化與對應(yīng)的劣化指標、潛在的老化機制和相關(guān)的效應(yīng)之間的關(guān)系使用差分電壓-增量分析(DV-ICA)的挑戰(zhàn) 要高效率地取得精密的DV-IC曲線必須克服以下挑戰(zhàn)：目前的充放電設(shè)備缺乏較高的電壓和電流精度和準確度。必須透過平滑算法清楚地辨識DV-IC曲線及其特征峰，且存在數(shù)據(jù)過度修改和失真的風(fēng)險。針對不同材料體系電池創(chuàng)建平滑算法非常耗時。 Chroma的解決方案若要最簡易又快速地解決上述所面臨的問題，最好的方式就是采用高精確度量測設(shè)備，除了讓電流全程輸出穩(wěn)定，確保長時間電壓與電流量測具備超高質(zhì)量精準度，更要最大化降低溫度與內(nèi)部量測噪聲的影響，以獲得清晰可辨的DV-IC曲線及特征峰。Chroma 17010系列為此應(yīng)用推出全新Model 17208M-5-12C超高精度充放電機，其量測精密度最高達<±0.001% of F.S.，為電池劣化評估提供更精準且有效率的解決方案。圖片 ▲17208M-5-12C DV-IC曲線圖實測結(jié)果

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