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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 高低溫試驗(yàn)箱概述： 高低溫試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲存；可程式高低溫試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。 可程式高低溫試驗(yàn)箱詳細(xì)資料： 特點(diǎn)： 可程式高低溫試驗(yàn)箱采用進(jìn)口按鍵式溫度控制器,專家PID算法,LCD顯示設(shè)定和測量溫度，溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡單,程式編輯容易； 可程式高低溫箱獨(dú)特的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品溫度均勻度; 全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高; 完善的安全保護(hù)裝置,確保產(chǎn)品的運(yùn)行更加安全可靠; 可程式高低溫試驗(yàn)箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。 執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn) 1. GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 2. GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 3. GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法 5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法 6. GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法 7. GJB150.3-1986高溫試驗(yàn) 8. GJB150.4-1986低溫試驗(yàn) 9. IEC68-2-14 試驗(yàn)N
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