產(chǎn)品簡介:CMI980系列能夠執(zhí)行膜厚量測及元素分析。使用高解析度檢測器提高元素量測之精度及膜厚量測之準(zhǔn)確度，使用小準(zhǔn)直器對於小點可以進行元素分析，也可對於產(chǎn)品進行掃描後顯示有害元素的組成及含量分布圖。

　　適用產(chǎn)業(yè):用於電子元件、半導(dǎo)體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾

　　X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應(yīng)用選擇最合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。100瓦X射線管25mm2PIN探測器多準(zhǔn)直器配置掃描分析及元素分布成像功能靈活運用多種分析模型清晰顯示樣品合格/不合格超大樣品艙同時分析元素含量和鍍層厚度

　　應(yīng)用

　　-RoHS/WEEE-有害元素痕量分析-焊料合金成分分析和鍍層厚度測量-電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量-五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量-貴金屬合金分析和牌號鑒定