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顯微顆粒圖像儀JX-2000

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出廠價：
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主要規(guī)格：
JX-2000

用　　途：
測試粉體顆粒外觀形貌、粒度分布

JX-2000A型：應(yīng)用范圍：配置透射顯微鏡，適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化工、食品、農(nóng)藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、硬質(zhì)合金、催化劑、燃料、云母粉、耐火材料、填料、石墨、顏料等各種粉末物料，玻璃纖維，礦巖成分判斷（偏光）。 JX-2000B型：應(yīng)用范圍：配置透反射顯微鏡，適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、醫(yī)藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析；還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透光的物體表面結(jié)構(gòu)的觀察測試。主要性能：光學(xué)顯微鏡放大成像，專業(yè)級攝像頭，高速高分辨率圖像采集卡，圖像動態(tài)快速顯示于電腦，直接觀察粉體顆粒的形貌，專用軟件進行粒度分析。全平場消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，圖像顯示和打印最大倍數(shù)4000倍(A4幅面)。測量范圍：0.5μm～2000μm 分析軟件：提供等面積和等周長兩種基準(zhǔn)下的個數(shù)、直徑、面積、體積等分布數(shù)據(jù)。同時提供D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。測量結(jié)果：顆粒形貌可存盤打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計磨料、硅灰石等專用軟件。測量方法：透射：將樣品置于載玻片上，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數(shù)據(jù)。反射：將樣品置于物鏡下方，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數(shù)據(jù)。圖像采集：可調(diào)整圖像高度、寬度、分辨率等。圖像分析處理： 1.色調(diào)處理：負像、灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對比度調(diào)整； 2.圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小、任意比例縮放等； 3.測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選； 4.圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等； 5.圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標(biāo)擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能； 6.分析參數(shù)：（1）幾何參數(shù)：每個顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置，像素；（2）當(dāng)量幾何參數(shù)：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；（3）外接幾何參數(shù)：每個顆粒的外接圓直徑；（4）光密度參數(shù)：圖像 R、G、B、灰度分布；（5）形態(tài)學(xué)參數(shù)：長徑比，圓度系數(shù)；注：JX-2000B型透射功能和JX-2000A型相同結(jié)果打印:多種數(shù)據(jù)格式

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陳生

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