首頁 | 門診 | 檢測認(rèn)證 | 儀器設(shè)備 | 企業(yè)庫 | 專家?guī)?/a> | 標(biāo)準(zhǔn)庫 | TBT研究 | 工業(yè)品商城
機(jī)構(gòu)登錄
機(jī)構(gòu)登錄
檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- EPOCH便攜式超聲探傷儀 Omniscan X3 Series 提供創(chuàng)新型TFM功能的OmniScanX3相控陣探傷儀 信心滿滿，昭然可見 OmniScanX3相控陣探傷儀是一個完備的相控陣工具箱。其性能強(qiáng)大的工具，包括全聚焦方式（TFM）成像和高級可視化能力，在其高質(zhì)量成像功能的支持下，可使您更加充滿信心地完成檢測。 提供高級功能的OmniScanX364相控陣和TFM探傷儀 威力強(qiáng)大，小巧便攜 OmniScanX364相控陣探傷儀沿用了已經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證、堅固耐用、輕盈便攜的OmniScanX3外殼，其強(qiáng)大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持，可使您充分利用64晶片相控陣探頭，進(jìn)行128晶片孔徑的TFM檢測。您可以利用這款儀器的增強(qiáng)性能，迎接檢測較厚、衰減性較強(qiáng)材料的挑戰(zhàn)，并提升您的潛力，為更廣泛的應(yīng)用開發(fā)新程序。 受益于64晶片脈沖發(fā)生器相控陣技術(shù) 使用OmniScanX364探傷儀可以充分發(fā)揮64晶片相控陣探頭的潛力，提高焦點(diǎn)處的分辨率。 向右滑動：使用32通道OmniScanX3探傷儀和64晶片探頭（5L64-A32型號）獲得的圖像。雖然這個S掃描是高質(zhì)量圖像，但是其分辨率反映了以下事實(shí)：只有中間32個晶片可用于聚焦法則。 向左滑動：OmniScanX364探傷儀使用一個全部64晶片孔徑（5L64-A32探頭）獲得的圖像，在焦點(diǎn)處提供了更好的PA分辨率，可使您更輕松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。 https://www.chem17.com/st669973/erlist_2606405.html https://www.chem17.com/st669973/product_39449378.html
關(guān)于檢測通 | 服務(wù)項(xiàng)目 | 合作中心 | 資訊投稿 | 媒體聚焦 | 聯(lián)系我們 | 客服中心 | 網(wǎng)站地圖 | 友情鏈接
Copyright ? 2010-2016 生意寶檢測通 版權(quán)所有.浙ICP備14007955號
浙公網(wǎng)安備 33010602010408號
地址：浙江省杭州市莫干山路187號易盛大廈12F 郵政編碼：310012
客服QQ:2804879579 檢測通QQ群:檢測資源-詢盤、人脈 319379593
-
檢測通手機(jī)版 
檢測通官方微信
檢測通QQ群