檢測認證人脈交流通訊錄
- KoreSurfaceSeerS在飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)系列中,是一款高性價比且經久耐用的產品。它是研究樣品表面化學成分的理想選擇,適用于研發(fā)和工業(yè)質量控制應用。
飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)是非常靈敏的表面分析手段。其憑借質譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能,廣泛應用于醫(yī)學、細胞學、地質礦物學、半導體、微電子、物理學、材料化學、納米科學、礦物學、生命科學等領域。
KoreSurfaceSeerS型號的飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)使用的是5keVCs+離子束(可選惰性氣體Ar+),該離子束是脈沖式的,以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷。在每100μsTOF循環(huán)中,該離子槍的脈沖時間僅為60ns,因此,主光束提供的電流比連續(xù)打開時少1000倍以上。典型的10s實驗時間所產生的電流僅相當于幾毫秒的連續(xù)光束電流。要達到所謂的“靜態(tài)SIMS"極限,需要在一個點上進行幾分鐘的分析,在這個點上,表面損傷在數(shù)據(jù)中變得清晰可見(取決于焦點和光束電流)。盡管離子劑量較低,這款TOF分析儀還是非常高效的,這就說明了它具有較高的二次離子數(shù)據(jù)速率(即使在離子產率相對較低的聚合物上,也通常為5000c/s)。
SurfaceSeerS儀器特點:
配備5keVAr+/Cs+脈沖式離子束,以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷,實現(xiàn)樣品“無損"分析;
針對工業(yè)領域的低成本TOF-SIMS儀器;
均適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析;
可在1~2min內實現(xiàn)高速率的正負質譜分析;
質量分辨率可達>2,500m/δm(FWHM);
適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析。
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