一、設(shè)備型號(hào)及名稱

        CST-50M夏比沖擊試樣缺口投影儀

二、設(shè)備用途與特點(diǎn)

        夏比沖擊試驗(yàn)對(duì)于沖擊試樣缺口要求嚴(yán)格，缺口的微小變化，都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果出現(xiàn)誤差，為保證加工出的沖擊試樣缺口合格，缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的控制手段。目前用光學(xué)投影放大檢查是唯一切實(shí)可行，并能保證沖擊試樣缺口質(zhì)量的方法。CST-50M型夏比投影儀是我公司根據(jù)ASTM E23-02a《材料缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)沖擊試驗(yàn)方法》7.1.3和GB/T229-2007對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型(深2mm)和U型(深2mm)沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機(jī)械制造及科研等部門理化實(shí)驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。本設(shè)備是利用光學(xué)投影方法，將沖擊試樣缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V型或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格。本設(shè)備僅需電源，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高，體積小，便于移動(dòng)，易維護(hù)。突出特點(diǎn)：本設(shè)備屏幕上標(biāo)有明顯刻度，并標(biāo)有公差帶、角度值和深度線，可精確讀出缺口誤差，滿足美標(biāo)、歐標(biāo)ASTM E23，EN 10045，ISO 148，ISO 83、GB/T229-2007等一些國(guó)際相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。也可根據(jù)客戶的要求定做，滿足檢測(cè)3mm或5mm沖擊試樣缺口的需要。

三、主要技術(shù)規(guī)格

1、放大倍數(shù)：50× 物鏡放大倍率：2.5× 投影物鏡放大倍率：20×

2、投影屏直徑：Φ200 mm

3、工作臺(tái)尺寸：方工作臺(tái)：(110×125)mm圓工作臺(tái)：Φ90 mm工作臺(tái)玻璃直徑：Φ70 mm

4、工作臺(tái)行程：縱向：±10 mm橫向：±10 mm升降：±12 mm(無(wú)刻度)

5、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0°-360°（無(wú)刻度)

6、光源(鹵鎢燈)：12V 100W

7、電源：220V 150W

8、外形尺寸(長(zhǎng)×寬×高)：(510×220×600)mm

9、重量：約20kg