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Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng) 150AT雙折射測(cè)量系統(tǒng) 昊量供

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品　　牌：
美國(guó)Hinds Instruments公司

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出廠價(jià)：
1

主要規(guī)格：
應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x

用　　途：

150AT應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)所屬類(lèi)別： ? 光學(xué)/激光測(cè)量設(shè)備 ? 應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x 所屬品牌：美國(guó)Hinds Instruments公司產(chǎn)品簡(jiǎn)介 150AT全自動(dòng)應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng) 全自動(dòng)應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng) 150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測(cè)樣品應(yīng)力情況，便于操作和日常監(jiān)測(cè)。 150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)可以根據(jù)客戶需求選擇設(shè)置，使得測(cè)量更有針對(duì)性（高精度/大范圍相位延遲量），系統(tǒng)有著極高測(cè)量速度的同時(shí)也具有高的測(cè)量分辨能力（<1 mm grid spacing ），150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)也提供傾斜位移平臺(tái)等設(shè)計(jì)來(lái)幫助客戶完成一些非常規(guī)掃描/測(cè)量需求。產(chǎn)品特點(diǎn) 自動(dòng)X/Y位移平臺(tái)掃描二維/三維圖形/參數(shù)表格顯示樣品應(yīng)力分布測(cè)量結(jié)果臺(tái)式整機(jī)設(shè)計(jì)組裝靈活位移平臺(tái)設(shè)計(jì)，滿足個(gè)性化定制需求強(qiáng)大數(shù)據(jù)擬合分析功能和友好用戶界面參數(shù) 高精度測(cè)量系統(tǒng)選項(xiàng)大范圍相位延遲量測(cè)量選項(xiàng)相位延遲量范圍:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延遲量測(cè)量分辨率/ 重復(fù)精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.0 1 nm / ± 0.015 nm角度測(cè)量分辨率 / 重復(fù)精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°測(cè)量速率 / 時(shí)間4:up to 100 pps / sample size dependent 尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D) 光源波長(zhǎng)5:Various (632.8 nm standard) 測(cè)量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm) 內(nèi)置測(cè)量調(diào)制頻率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz 解調(diào)分析技術(shù):Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card 測(cè)量單位:nm (retardation), ° (angle) 、 1 Typical performance at 5 nm retardation 2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter 3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter 4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters. 5 Custom wavelengths available 6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 選項(xiàng): * Additional Polarization Parameters * 超高速掃描選項(xiàng) * 光譜掃描測(cè)量和RGB測(cè)量 * 客戶定制內(nèi)置波長(zhǎng)選項(xiàng)（紫外/紅外） * 手動(dòng)/自動(dòng)傾斜位移平臺(tái)裝置 * 定制樣品平臺(tái)加持誰(shuí)記 * 定制化顯示界面 (UI or DLL) * 應(yīng)力計(jì)算評(píng)估軟件

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