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LZ-200J/LE-200J/LH-200J日本KETT膜厚計(jì),膜厚儀,涂層測(cè)厚儀,超音波膜厚儀

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出廠價(jià)：
0

主要規(guī)格：
LZ-200J/LE-200J/LH-200J

用　　途：
日本KETT膜厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性復(fù)層的厚度（如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆）以及非磁性金屬基體（如是銅、橡膠、油漆塑料等）。內(nèi)置打印機(jī)，可打印數(shù)據(jù)，有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能，可外接電腦

產(chǎn)品名稱：日本KETT膜厚計(jì),膜厚儀,涂層測(cè)厚儀,超音波膜厚儀產(chǎn)品型號(hào)：LZ-200J/LE-200J/LH-200J 一、產(chǎn)品特點(diǎn)：日本KETT膜厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性復(fù)層的厚度（如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆）以及非磁性金屬基體（如是銅、橡膠、油漆塑料等）。內(nèi)置打印機(jī)，可打印數(shù)據(jù)，有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能，可外接電腦。二、產(chǎn)品參數(shù)： ◆測(cè)定方法：電磁式/高頻渦流式 ◆測(cè)定對(duì)象：磁性金屬上非磁性涂鍍層LE-200J/非磁性金屬上絕緣層LH-200J ◆測(cè)定范圍：0-1500um或0-60.0mils ◆測(cè)定精度：<50um±0.3um>15um±2% ； <50um±0.3um>50um±2% ◆分辨率：<100um 0.1um ； >100um 1um ◆測(cè)試面積：≥3X3mm； ≥5X5mm ◆統(tǒng)計(jì)功能：測(cè)試數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差 ◆界限設(shè)定：可設(shè)定上/下限數(shù)值 ◆測(cè)試單位：公/英制互換 ◆顯示方式：LCD數(shù)顯 ◆操作面板：密封防水按鍵 ◆打印：本機(jī)配備打印機(jī)打印統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) ◆附屬品：基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/測(cè)頭/電池/曲面支架/皮套/說(shuō)明書(shū) ◆電源：主機(jī)5#堿性電池X6個(gè) 打印機(jī)5#堿性電池X4個(gè)帶220V變壓器 ◆體積：120（W）X 250（D）X 55（H） ◆重量：110g

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