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加速壽命
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對應法規(guī):GB 2689.1 恒定應力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則
GB 2689.2 壽命試驗和加速壽命
CNAS認可項目:是
- 加速壽命試驗(ALT)只對元器件、材料和工藝方法進行,用于確定元器件、材料及生產(chǎn)工藝的壽命。其目的不是暴露缺陷,而是識別及量化在使用壽命末期導致產(chǎn)品損耗的失效及其失效機理。有時產(chǎn)品的壽命很長,為了給出產(chǎn)品的壽命期,加速壽命試驗必須進行足夠長的時間。在產(chǎn)品的設計、研制、生產(chǎn)和使用直至壽命末期整個壽命周期內,其可靠性的設計、改進、評估都離不開環(huán)境試驗手段,而加速環(huán)境試驗在產(chǎn)品的設計、研制和生產(chǎn)中是實現(xiàn)產(chǎn)品的可靠性增長和確定、評估產(chǎn)品可靠性水平的重要手段。
加速壽命試驗(ALT)是基于如下假設:即受試品在短時間、高應力作用下表現(xiàn)出的特性與產(chǎn)品在長時間、低應力作用下表現(xiàn)出來的特性是一致的。
加速壽命試驗方法有三種:
恒定應力加速壽命試驗、(材料和元器件)
步進應力加速壽命試驗、(元器件)
序進應力加速壽命試驗(材料)
將一定數(shù)量的樣品分成幾組,對每組施加一個高于額定值的固定不變的應力,在達到規(guī)定失效數(shù)或規(guī)定失效時間后停止,稱為恒定應力加速壽命試驗(以下簡稱恒加試驗);應力隨時間分段增強的試驗稱步進應力加速壽命試驗;應力隨時間連續(xù)增強的試驗稱為序進應力加速壽命試驗。序加試驗可以看作步進應力的階梯取很小的極限情況。
加速壽命試驗目的
1、利用較短的時間,少量的樣品估計高可靠器件的可靠性水平,用外推法快速預測器件在額定或實際使用條件下的失效率。
2、短時間提供試驗結果,檢驗器件設計、工藝的改進效果,比較不同工藝和器件結構的利弊。
3、短時間暴露器件或電路的失效形式,結合失效分析、了解失效機理,糾正前期設計。
4、合理地制定篩選條件和試驗規(guī)范提供依據(jù)。
采用的標準
GB 2689.1 恒定應力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則
GB 2689.2 壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法
GB 2689.3 壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法
GB 2689.4 壽命試驗和加速壽命試驗的最好線性無偏估計法
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