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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-1996方法2004A、2025A、2028,微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005方法2004.2、2025.1、2028,半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-1997方法2036,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360A-1996方法211,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360B-2009方法211,微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883H：2010 方法2004.6、2025.4、2028.4,半導(dǎo)體集成電路機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法SJ/T10745-1996第2.1條,引線牢固性JESD22-B105C：2003
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