1、絕緣電阻
Insulation resistance test" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
EIA-364-21E-2014
GB/T 20041.1-2005（導(dǎo)管）
11.3.1.3 &11.3.1.4節(jié)"
2、耐高壓測(cè)試
Withstanding voltage test" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 20041.1-2005（導(dǎo)管）
11.3.1.1節(jié)"
EIA-364-20D-2008
3、泄漏電流測(cè)試
Leakage current test" 
4、LCR 測(cè)試
LCR test" 
電阻率/導(dǎo)電率
Resistivity / Conductivity" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2061-2013
 GB/T3954-2008
    
GB/T351-1995
GB/T3048.2-2007
    
GB/T11091-2005
 
ASTM B193-02(2014)
 
ASTM B301/B301M-13"
直流低電阻測(cè)試
Resistance test (direct current)" 
交流低電阻測(cè)試
Resistance test (Alter current)" 
電參數(shù)測(cè)試
Electricity parameter test" 客戶(hù)提供
5、接地(導(dǎo)通)電阻測(cè)試Grounding resistance test 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
EIA-364-06B 2000
(已作廢，被EIA 364-06C-2006(R2012)取代)"
IEC 61984:2008
Section 7.3.13"
6、電壓降測(cè)試
Voltage drop test"
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
EIA-364-06B 2000
(已作廢，被EIA/ECA 364-06C-2006(R2012)取代)"
7、瞬斷測(cè)試
Electric disturbance test" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
EIA-364-46C-2012
8、導(dǎo)通電阻＆接觸電阻
Conductive Resistance&Contact  Resistance" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
IA-364-06B 2000
(已作廢，被EIA/ECA 364-06C-2006(R2012)取代)"
9、溫升測(cè)試
Temperature Rise" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
EIA-364-70C-2014
轉(zhuǎn)速測(cè)試
revolution speed" 客戶(hù)提供
功耗測(cè)試
Power Consumption" 客戶(hù)提供
多功能數(shù)據(jù)采集儀
Data Acquisition" 客戶(hù)提供
扭矩測(cè)試儀
 Torque Tester " 客戶(hù)提供
信號(hào)發(fā)生器及波形采集
Signal Generator and Oscilloscope" 客戶(hù)提供
通斷電試驗(yàn)
(可進(jìn)行溫度控制)
On/Off Controller(Controlled by Temperature) " 客戶(hù)提供
10、漏電起痕 
（PTI:Proof tracking index）
耐電痕化指數(shù)" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
IEC 60112-2009       
GB/T 4207-2012          
UL746A-2012REV.1-2013 
11、漏電起痕（CTI:Comparative tracking index）
相對(duì)電痕化指數(shù)" 
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
IEC 60112-2009     
GB/T 4207-2012      
ASTM D3638-12        
UL746A-2012REV.1-2013