• 測試項目：

按鍵耐久性測試

• 項目內容：

1. 測試目的：

驗證按鍵經按鍵耐久性測試后其機構性能之有效性。

1. 相關法律法規(guī)：無
2. 參考標準（或可測標準）：無
3. 已測試的產品：手機按鍵、筆記本計算機按鍵、遙控器等3C電子產品相關功能鍵。
4. 試驗設備：
5. 測試項目：

1. 設備參數(shù)：

設備名稱：泛用耐久試驗機

制造商 ：FOXCONN

設備型號 ：UDT-10-2-X2

測試最大速度：2次/s

最大力值：40N；

優(yōu)爾鴻信檢測技術有限公司 (富士康華南檢測中心簡稱Foxconn CMC)成立于1996年，配合高科技電子產品設計、驗證、生產過程中的檢測需求組建科技實驗室，創(chuàng)始團隊匯集科技精英、憑借雄厚的技術背景和開拓創(chuàng)新精神，在一張白紙上點石成金。華南檢測中心迄今發(fā)展成目前七大功能22個專業(yè)的實驗室，占地6.6萬平方米，主要檢測設備4300余臺(套) ， 擁有1500人的管理、技術人員團隊，打造了一個提供快速、精密、準確檢測能力、服務網(wǎng)絡遍及全國的大型旗艦實驗室。于2003年取得中國國家合格評定委員會(CNAS) 的初次認可。實現(xiàn)『一份報告、全球通行』。聯(lián)系人：張成鳳，聯(lián)系電話：18761715006座機：0512-57785888-26784.地址：江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號