藍(lán)牙產(chǎn)品的射頻測(cè)試，是其進(jìn)行藍(lán)牙認(rèn)證流程中，測(cè)試環(huán)節(jié)的重要部分。而射頻測(cè)試得以正常進(jìn)行的前提，是客戶提供的樣品能夠成功進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試模式。這里提到的測(cè)試模式是指，由藍(lán)牙技術(shù)規(guī)范(SIG發(fā)布)規(guī)定，支持藍(lán)牙的收發(fā)測(cè)試，能用于配合射頻或基帶層的測(cè)試。即在測(cè)試模式下，藍(lán)牙產(chǎn)品能夠處于測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求的特定工作狀態(tài)，如特定的跳頻模式、工作信道、調(diào)制方式以及數(shù)據(jù)包類型等參數(shù)。所有的藍(lán)牙芯片一定會(huì)有測(cè)試模式，不同的芯片進(jìn)入測(cè)試模式的方法不同，具體是由不同的芯片廠商決定。

藍(lán)牙樣品能否進(jìn)入測(cè)試模式，是對(duì)其開(kāi)展射頻測(cè)試的前提和關(guān)鍵。依據(jù)現(xiàn)行藍(lán)牙技術(shù)規(guī)范，已定義的藍(lán)牙測(cè)試模式如下所示：
Classic Bluetooth(BR/EDR)技術(shù)測(cè)試模式：Test Mode （信令模式）
Bluetooth Low Energy(BLE)技術(shù)測(cè)試模式：Direct Test Mode （非信令模式）
通常，在進(jìn)行Classic Bluetooth射頻測(cè)試時(shí)，被測(cè)物在成功進(jìn)入Test Mode后，藍(lán)牙測(cè)試儀(如R&S CBT, Anritsu MT8852B等)通過(guò)射頻線路，與被測(cè)物進(jìn)行信令連接模式，與從而控制其工作狀態(tài)，完成各測(cè)試項(xiàng)目。除進(jìn)入Test Mode時(shí)可能需要要額外的控制接口或控制線外，測(cè)試過(guò)程中是不需要外部干預(yù)對(duì)DUT進(jìn)行設(shè)置。

然而，不同于Classic Bluetooth射頻Test Mode，Bluetooth Low Energy是沒(méi)有信令模式的，它的Direct Test Mode測(cè)試模式不能與藍(lán)牙測(cè)試儀建立雙向鏈路，即被測(cè)物的工作狀態(tài)不能通過(guò)藍(lán)牙測(cè)試儀來(lái)控制，須通過(guò)以下兩種連接方式之一，來(lái)進(jìn)入Direct Test Mode，通過(guò)特定指令來(lái)實(shí)現(xiàn)

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