高加速應(yīng)力試驗(yàn)HAST

　　加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)被廣泛應(yīng)用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)。

　　當(dāng)HAST試驗(yàn)應(yīng)用于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段時(shí),可以快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，特別是線路板,多層線路板,IC半導(dǎo)體,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè), 測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。HAST試驗(yàn)結(jié)果能夠分析出何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因。

　　參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.40，IEC 60068-2-66，JESD22-A102等 。