包裝跌落測試  高加速壽命試驗（HALT） 第三方檢測

跌落測試
通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率做為參考標準，落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應以產品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。 對于不同國際規(guī)范即使產品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產品(如手機, MP3等)大多數掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產品(如手機）則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數、跌落方向。

包裝跌落測試  高加速壽命試驗（HALT） 第三方檢測

參考的測試標準：GB/T 2423.8，ISTA，IEC60068-2-32，GB-T4857.5等。 最大負載:500Kg 最大跌落高度：1000mm

包裝跌落測試  高加速壽命試驗（HALT） 第三方檢測

環(huán)境可靠性測試：可靠性是指：產品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內完成規(guī)定的功能的能力。產品在設計、應用過程中，不斷經受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗設備對其進行驗證，這個驗證基本分為研發(fā)試驗、試產試驗、量產抽檢三個部分。其中機械環(huán)境包含：振動試驗(隨機振動，掃頻振動）、汽輸車運試驗（模擬運輸測試、碰撞測試）、機械沖擊試驗、跌落試驗、斜面沖擊試驗，堆碼壓力試驗、溫濕度+振動三綜合試驗、高加速壽命試驗（HALT）、高加速應力篩選（HASS、HASA）、插拔壽命測試（插拔力、拔出力），鋼球沖擊試驗、按鍵壽命測試、點劃壽命試驗、搖擺試驗、鉛筆硬度測試、耐磨測試、附著力測試、百格測試等；