檢測認證人脈交流通訊錄
表面成分分析
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對應法規(guī)：GB,ASTM
CNAS認可項目：是 - 做表面成分分析方法： AES：材料表面形貌觀察及表面不同深度的無機物成分分析,最小分析深度:表面3nm，剖面分析深度：2-20nm，檢出限：0.1-1at%。 X射線光電子（XPS/ESCA）：材料表面不同深度組成元素的定性、半定量及價態(tài)分析，最小分析深度:表面2nm，檢出限：0.01-1at%。 EDS：表面形貌觀察20000倍及表面無機物成分分析， EDS（C后面的元素）分析深度:表面0.3～5μm，成分檢出限：0.1%。 XRD：表征材料的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應力，進行物相分析,定性分析和半定量分析.只有圖譜的標準卡，無對應的測試標準。檢出限：1at%。
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