檢測認證人脈交流通訊錄
鍍層厚度測量
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對應法規(guī):ASTM B487-85
CNAS認可項目:是
- 方法一:取樣:對客戶要求測試區(qū)域取一個截面進行。金相切片法(先將樣品切片,再經研磨、拋光后,在顯微鏡下進行拍照與尺寸量測); 樣品要求:需指定具體測試位置,可以測試厚度大于0.2微米鍍層
方法二:X射線熒光法(將樣品直接放入X-Ray膜厚儀中,用已校準過的測試程式對指定部位進行膜厚測試)
樣品要求:測試樣品高度不得大于20cm,且需指定具體測試位置,樣品測試平面需大于0.2毫米
深圳市中天檢測技術有限公司
葛登先
- 地址:
- 深圳市龍華區(qū)大富路阿寶科技園A1棟2樓
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