技術指標:掃描范圍:0°-160°,測角精度:0.001°,角度重現(xiàn)性:0.0001°,平行光路入射光發(fā)散度<0.04°
儀器用途:粉末及薄膜樣品的晶體結構分析,物相鑒定(物相定性、定量分析),相變分析,結晶度測定,納米材料分析。
收費標準:100-200元/次
機組負責人:陳俊 051183356170
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