技術(shù)指標(biāo)：1.按照ANSI C63.4-2003的步驟和規(guī)定，在直徑3米的圓柱體靜區(qū)內(nèi)所有位置從30MHz至1GHz進(jìn)行歸一化場衰減測試，按照10米法測量的歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優(yōu)于±4dB；1GHz至18GHz頻率范圍內(nèi)使用傳輸損耗（TL）測試方法進(jìn)行測試，僅在5GHz、10GHz和18GHz三點(diǎn)進(jìn)行測試,歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優(yōu)于±4dB。同時滿足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、GB9254-1998、VCCI V-3/99.05標(biāo)準(zhǔn)對場衰減的要求。 2.按照IEC61000-4-3步驟和規(guī)定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz進(jìn)行場均勻度測試，標(biāo)準(zhǔn)場為轉(zhuǎn)臺之上0.8米-2.3米范圍內(nèi)1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米測試距離要求16個測試點(diǎn)的75%即12點(diǎn)場均勻性在0-6dB之間；1GHz至18GHz的測試僅在5GHz、10 GHz和18GHz三點(diǎn)以低于3v/m進(jìn)行測試。 3. 按照CISPR22 Claas B（GB9254-1998）的規(guī)定，在30MHz-1GHz的頻率范圍內(nèi)，無EUT的情況下，測得的環(huán)境電平值，至少低于規(guī)定的B級限值10dB。

儀器用途：可對通訊設(shè)備、電子、電氣設(shè)備進(jìn)行電磁兼容（EMC）測試，即電磁干擾（EMI）和電磁敏感度（EMS）測試。適用頻率30MHz-18GHz可延至40GHz。

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：1000

機(jī)組負(fù)責(zé)人：畢言順  15251750971  chris.bi@siemic.com