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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：掃描探針顯微鏡 (Scanning Probe Microscopy)
- 價(jià)格型號(hào)：Multimode V
- 儀器分類：分析儀器/顯微鏡及圖象分析儀器/掃描探針顯微鏡
- 應(yīng)用領(lǐng)域：其他
- 所屬單位：復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系
- 所在地點(diǎn)：上海市楊浦區(qū)邯鄲路220號(hào)
- 產(chǎn) 地：美國(guó)
- 產(chǎn) 商：美國(guó)Veeco公司
- 價(jià) 值：0
- 購(gòu)置日期：0000-00-00
主要技術(shù)指標(biāo)：掃描范圍：10μm×10μm橫向分辨率：~ 5 nm (電學(xué)測(cè)量模式為10~20nm)CAFM電流分辨率< 5pA
功能/應(yīng)用范圍：功能包括：AFM，EFM，CAFM，SKM，SCM等主要應(yīng)用為：納米尺度的電學(xué)性質(zhì)測(cè)量
主要測(cè)試和研究領(lǐng)域：其他
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