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FE-SEM測試_FE-SEM檢測_場發(fā)射掃描電鏡_服務(wù)
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- 原理 依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。樣品表面加一個強(qiáng)電場，樣品表面勢壘降低，由于隧道效應(yīng)，樣品金屬內(nèi)部的電子穿過勢壘從金屬表面發(fā)射出來，這種現(xiàn)象稱場發(fā)射。亮度高約比普通SEM高100倍，分辨率可達(dá)10nm. 儀器技術(shù)參數(shù) 二次電子分辨率: 1.4nm (1 kV，減速模式) 放大倍率: x 20~ x 800,000 電子槍: 冷場發(fā)射電子源 送樣要求 粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm. 應(yīng)用領(lǐng)域 1.金屬、非金屬及復(fù)合材料的觀察分析； 2.納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統(tǒng)計(jì)； 3.微區(qū)成分的定性、定量計(jì)算，并對重點(diǎn)區(qū)域做元素分布圖； 4.可對固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行結(jié)合情況觀察和厚度測量； 5.機(jī)械設(shè)備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。 適用標(biāo)準(zhǔn) GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則 GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 專業(yè)、高效、精準(zhǔn)、高性價(jià)比是劑拓公司的服務(wù)宗旨。
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