物理特性測(cè)試系統(tǒng) (physical property measurement system)

主要技術(shù)指標(biāo)：溫度范圍：1.9-400K；磁場(chǎng)：+-9TACMS選件：交流磁化率：2*10-8emu；直流磁化率：2.5*10-5emu；VSM選件：直流磁化率：10-7emuACT交流電輸運(yùn)；Resistivity電阻(<=4M歐姆...

復(fù)旦大學(xué)物理學(xué)系

磁光測(cè)量低溫恒溫系統(tǒng) (magneto plasmadynamic measurement low temperature

　　主要技術(shù)指標(biāo)：用于磁光效應(yīng)的檢測(cè)，可以測(cè)量其偏振性，相干性 　　功能/應(yīng)用范圍：磁體，光學(xué)測(cè)量 　　主要測(cè)試和研究領(lǐng)域：材料/珠寶首飾其他...

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近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡 (Scan near-field optical microscopy)

主要技術(shù)指標(biāo)：采用3DFlatscan掃描器，掃描范圍:XY方向70um、Z方向70um，另外有30um和10um掃描器選配，掃描步進(jìn)：70um掃描器＜1nm、10um掃描器＜0.1nm，掃描器厚度7mm,重量75克；近場(chǎng)光學(xué)顯...

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掃描探針顯微鏡 (Scanning Probe Microscopy)

主要技術(shù)指標(biāo)：掃描范圍：10μm×10μm橫向分辨率：~5nm(電學(xué)測(cè)量模式為10~20nm)CAFM電流分辨率<5pA 功能/應(yīng)用范圍：功能包括：AFM，EFM，CAFM，SKM，SCM等...

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