檢測認證人脈交流通訊錄
- 半導(dǎo)體動態(tài)老化試驗箱BIC.
主要應(yīng)用于半導(dǎo)體廠(晶圓,封裝,測試…)可靠度或高溫老化試驗及數(shù)據(jù)分析;可提供軟硬件測試系統(tǒng)設(shè)計及規(guī)化服務(wù),依客戶端需求設(shè)計軟件畫面及報表輸出.由泰琪提供完整軟硬件測試解決方案.
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