檢測認證人脈交流通訊錄
- 菲希爾(XDVM)測厚儀是針對高要求用戶設(shè)計的,能夠測量極精密的樣品,如:微形部件或線路板上極微細的表面結(jié)構(gòu),它的新穎專利X-射線光學鏡片,創(chuàng)新的X-射線光學原理,使這部儀器能產(chǎn)生非常小,但高輻射強度的測量點,所以,測量數(shù)十微米的面積的結(jié)構(gòu)也變成可能。配備了半導體射線適合測量薄到數(shù)NM的鍍層,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀,還能測量出范圍從元素氯(Z=13)至鈾(Z =92)。主要應(yīng)用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描(指定面積),如:硬盤鍍層、細微的線。有極高精度,可編程的XYZ測量臺及大移動范圍,測量室為長方形內(nèi)槽設(shè)計,容許放入大面積的物件進行測量
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