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X射線膜厚測(cè)試儀

X射線膜厚測(cè)試儀,該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且，它還十分適合于測(cè)量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復(fù)性可達(dá)0,5 ‰。可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。使用安全簡(jiǎn)便，堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用。而且，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到極高的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量：?jiǎn)我诲儗樱篫n， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。菲希爾X射線膜厚測(cè)試儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個(gè)領(lǐng)域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標(biāo) 聯(lián)系人：王生：13316557996 電話：0755-29371655 傳真：0755-29371653 www.kinglinhk.com 地址：寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈

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王生