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機構(gòu)登錄
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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- *平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 平面平晶的技術(shù)參數(shù)平面直徑d(mm)基本參數(shù)1級價格2級d范圍內(nèi)2/3d范圍內(nèi)d范圍內(nèi)2/3d范圍內(nèi)300.03----2750.10.054532560 375800.050.03575 1001125150 50002000.080.0592000.120.062500.10.05184000.150.08300 0.15 0.09 550000.2 0.1
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