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X-RAY膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,進(jìn)口標(biāo)準(zhǔn)片,X-RAY測(cè)厚儀校正片
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測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
美國(guó)CalMetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測(cè)、博曼BOWMAN、禾苗、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測(cè)厚儀)、β-ray(β射線測(cè)厚儀)、磁感式及渦電流等多種原理的設(shè)備。
深圳市鼎極天電子有限公司
馬琴
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