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大面積薄膜太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)（SolarCellScan 10-Film）

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卓立漢光研發(fā)生產(chǎn)的大面積薄膜太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)為最新產(chǎn)品，作為一款太陽能電池量子效率檢測系統(tǒng)，大面積薄膜太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)與以往不同的是其采用薄膜太陽能電池，是一款用于大面積太陽能電池光譜響應(yīng)和量子效率測定大的實驗平臺。在國際市場硅原材料持續(xù)緊張的背景下，薄膜太陽電池已成為國際光伏市場發(fā)展的新趨勢和新熱點。與傳統(tǒng)的單晶、多晶硅電池的制備工藝不同，制備大面積的薄膜太陽能電池成為可能。 SolarCellScan 10-Film是一款用于大面積太陽能電池光譜響應(yīng)和量子效率測試的實驗平臺。它采用光纖輸出，結(jié)合大行程三維位移臺?？梢詫崿F(xiàn)對最大500mm*500mm面積的各種材料太陽能電池的光譜響應(yīng)度、外量子效率、內(nèi)量子效率、反射率、表面均勻度、擴(kuò)散長度、短路電流密度測量等參數(shù)的自動量測功能。主要特點： ■ 全光譜太陽光模擬（300~2000nm），測試的光伏材料拓展至近紅外 ■ 單色光源可選擇氙燈、鎢燈 ■ 偏置光路適合多結(jié)及多層膜電池測量 ■ 一鍵式全自動多結(jié)電池測試功能 ■ 快速Mapping掃描功能，<30min（156mmX156mm，1mm step） ■ 一體化設(shè)計操作更方便，系統(tǒng)更穩(wěn)定 ■ 提供完善的QE/IPCE分析手段 ■ 提供LBIC高分辨率多波長激光模塊功能選項（分辨率<250um，波長405nm、532nm、650nm、808nm、845nm、980nm）氙燈、鎢燈以及自動氙燈鎢燈復(fù)合光源可選根據(jù)IEC推薦標(biāo)準(zhǔn)，對太陽電池進(jìn)行光譜響應(yīng)測試，紫外區(qū)推薦使用氙燈（<400nm），而對可見與近紅外區(qū)則推薦使用鎢燈光源。系統(tǒng)有150W氙燈、150W溴鎢燈和氙燈鎢燈復(fù)和光源三種模式可選，滿足您的各種測試需求。多功能的偏置光附件系統(tǒng)提供偏置光源附件。偏置光源是太陽能電池量子效率測量時的有用附件，它提供給樣品一個用戶可調(diào)節(jié)的測試環(huán)境。在開放式的偏置光路上，系統(tǒng)預(yù)留了若干光學(xué)元件夾持器，用戶可以根據(jù)測量需要自行加裝衰減片、濾光片等，也可搭配六檔自動濾光片輪安裝不同的濾光片實現(xiàn)多結(jié)太陽電池的自動測量。多結(jié)太陽電池的用戶強(qiáng)烈建議選配偏置光源附件快速Mapping功能采用自主研發(fā)的高靈敏度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，可以分別實現(xiàn)AC與DC兩種模式的快速Mapping功能，并可一次掃描同時得到QE(LBIC)、反向率、內(nèi)量子效率、DL（Diffission Length）的Mapping數(shù)據(jù)。針對高分辨率應(yīng)用，更換多波長激光光源和聚焦系統(tǒng)可實現(xiàn)<250um分辨率的Mapping。人性化的樣品臺設(shè)計積累10年自動平臺設(shè)計生產(chǎn)制造經(jīng)驗，針對大面積薄膜電池設(shè)計兩維各500mm掃描范圍，光斑大小通過聚焦離焦自動可調(diào)，完全滿足QE測試使用需求，可任意定位單點測量QE曲線，可自定義掃描兼具完成QE Mapping測量，自動平臺掃描控制使用卓立自主研發(fā)高速程序與硬件，結(jié)合高速數(shù)據(jù)采集，可以實現(xiàn)0.5mm間距條件下，每秒可掃描20點的高速掃描，對制程品質(zhì)監(jiān)控提供最快速的分析手段。系統(tǒng)規(guī)格：項目指標(biāo)和說明光源 150W氙燈光纖輸出,光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%，可工作在斬波模式, 測試光斑尺寸 3mm~10mm 單色儀三光柵DSP掃描單色儀波長范圍 300nm～2000nm 波長準(zhǔn)確度 a) ±0.3nm（1200g/mm,300nm） b) ±0.6nm(600g/mm,500nm) c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm) 掃描間隔最小可至0.1nm 輸出波長帶寬 <5 nm 多級光譜濾除裝置根據(jù)波長自動切換，消除多級光譜的影響光調(diào)制頻率 4 - 400 Hz 標(biāo)準(zhǔn)探測器標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)硅探測器，InGaAs探測器,含校正報告偏置光源 150W Xenon Lamp 光纖輸出數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV 測量重復(fù)精度對太陽光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi) 測量速度單次光譜響應(yīng)掃描<1min，IPCE完整測試<5min (步長5nm) X Y 自動工作臺 300x300mm 或 500x500mm 單波長 QE Mapping 速度：20 Point/Second @ 0.5 mm Step 選型表 SCS10-X150-F300 150W Xenon arc lamp for probe source, optical stability ≦0.8%, Adjust mechanism: It can easy remove chopper from probe light a) ± 0.3nm;1200g/mm, blaze 300nm (1st grating) b) ± 0.6nm;600g/mm, blaze 500nm (2nd grating) c) ± 0.8nm;300g/mm, blaze 1250nm (3rd grating) 6 Position Filter Wheel(200-2000nm) DC mode(Data Acquisition System with Pre Amplifier ) AC mode( Lock-In Amplifier ) Chopper Short current preamplifier Calibrated Si Detector Calibrated InGaAs Detector 150W Xenon Bias Light Source with fiber output, White bias light source, optical stability ≦0.8%, with 1 inch Filter Wheel XY Stage for QE Uniformity Scanning, 300mm x300mm SCS10-X150-F500 XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm SCS10-T150-F300 150W Tungsten-Halogen Light Source instead of Xenon 150W Light Source. XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm SCS10-T150-F500 150W Tungsten-Halogen Light Source instead of Xenon 150W Light Source. XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm

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